ラインナップ・信頼性試験

Line up―先端技術の輝き。

そして世界の標準へ。

「テクノロジーに国境はない」これがサンリードの基本スタンス。生産国などに関わらず、 よりよい製品が世界の標準となる「ワンワールド・マーケット」の時代が実現しつつある今日、品質や納期、多品種少量生産などへの柔軟な対応力が評価基準となります。 こうした時代において独自性を発揮するために、サンリードは徹底して「ニーズ・オリエンテッド」の姿勢を持ち続け、クライアントの声に一つひとつきめ細かに応えています。1991年に世界発の高さ2.8 mmの薄型49U/SタイプのSMD を発表して以来、94年には 2.5mm高SL-MC、さらに 97年には2.0mm高 SL-MGを開発、低周波領域におけるSMD製品のパイオニアとしての地位を確立しました。 ここでの技術の蓄積は99年の1.0mm高 SL-CPの発表へとつながりました。 
商品開発の成功、そこには絶えまない「ニーズ・オリエンテッド」の姿勢があったからに他なりません。 技術の結晶、その輝きをもたらすものは、「信頼に応えるために、つねに全力を尽くす」メーカーとしての誇りです。

発表以来、49U/Sとあわせて2億個以上を市場に送り出してきました。SMD振動子のルーツとも言えます。用途に応じ、高さを押さえたロープロファイル、実装時の強度と安定性を高めたフィルムインシュレーター、シリンダータイプとのピン配列が共通なJ−リードの各タイプがあります。  
 
  SL-Mシリーズは5MHz 以下の低周波領域で2.0 mmの面実装を可能にした本格的なSMD振動子です。 特に4MHz以下においては発表以来たえず業界をリードしてきました。 PCMCIA、携帯電話、PDA等、電力消費量を制限される回路設計は低周波SL-Mシリーズに更なる活躍の場を与え続けます。
小型振動子として最もポピュラーで多用途な形状です。 スルーホールでの使用は勿論、リード加工を施したタイプや、EMI/RFI対策として第三リードを備えた形状もあります。
 
 
  情報機器の絶間ない小型化、薄型化、低電力化は私たちに新たな課題を提示しました。SL-CシリーズはEMI/RFI (電磁気/電波障害) 特性に優れたSEAM レーザー溶接方式による1.0mm高を可能にした超薄型、超小型パッケージです。 カードサイズやパームトップでの無限の用途が広がります。
信頼性試験は多種の試験項目に対し十分に時間をかけて行われます。 機械的な強度、長期間の特性の維持、 低温-高温から受ける温度ストレス、気密性、どれ一つを取っても大切なパラメーターです。
信頼性試験・解析主要装置
ネットワーク・アナライザー
クリスタル測定システム
恒温槽
ヘリューム・リーク試験装置
振動試験装置
衝撃試験機
プレッシャー・クッカー
工具顕微鏡
実体顕微鏡
エックス線マイクロアナライザー
走査電子顕微鏡
軟エックス線装置
熱分析装置